Keysight N5227A网络分析仪偏振片电磁特性测试
作者：西安威客电竞VKGAME测试
更新时间：2025-08-08
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应客户需求，威客电竞VKGAME测试做了偏振片电磁特性测试，以下是测试方案
被测件：偏振片
厚度：带膜（230um）；不带膜（160um）
测试要求及内容：不带膜条件下，不同角度的Q值和介电常数值（0~360°）
测试仪器：Keysight N5227A；
分析软件：Keysight N1500A；
介电常数分析软件：自研软件；
测试频点：3.4GHz
网分空腔测试
现场图片及曲线（0°）
现场图片及曲线（90°）
现场图片及曲线（180°）
现场图片及曲线（270°）
现场图片及曲线（360°）
测试数据汇总
角度（°） | 频率（MHz） | Q值 | 介电常数 | 厚度（mm） |
0 | 3389.009 | 1768 | 2.8416 | 0.16 |
90 | 3390.261 | 2732 | 2.7177 | 0.16 |
180 | 3389.004 | 1768 | 2.842 | 0.16 |
270 | 3390.412 | 2845 | 2.7024 | 0.16 |
360 | 3389.001 | 1760 | 2.8423 | 0.16 |
根据数据分析，偏振片不同角度下的 Q 值和介电常数
用以评估偏振片微观结构（分子取向、晶体结构、缺陷分布等）各向异性在宏观介电性能上的体现。
通过分析其角度依赖性，揭示偏振片内部结构的方向性特征，并关联到偏振片的偏振效率、能量损耗等关键功能参数，为优化制备工艺、提升性能提供依据。
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